Struktura obiektu
Tytuł:

Microphotoreflectance spectroscopy – a modulation technique with high spatial resolution

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Sęk, Grzegorz ; Podemski, Paweł ; Rudno-Rudziński, Wojciech ; Gumienny, Zbigniew ; Misiewicz, Jan

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; photoreflectance ; high resolution ; microphotoreflectance

Opis:

Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 439-447

Abstrakt:

There is presented an experimental setup for the measurements of photomodulated reflectivity spectra of low-dimensional semiconductor structures with a micrometer spatial (plane) resolution. The setup has been developed as an extended and improved version of a standard bright configuration, i.e., where the probe beam is provided directly by a broad band light source (e.g., halogen lamp) and then it is dispersed after being reflected off the sample. It gives typically the plane resolution, expressed by the spot size of the beams on the sample surface, on the level of single millimetres. Introducing optics, based on a long working distance and a high numerical aperture microscope objective, has allowed decreasing the spot size by three orders of magnitude into the micrometer range for both the probe and the pump beams. The optimization of microphotoreflectance signal to noise ratio has made it possible to detect the normalized reflectivity coefficient changes (ΔR/R) from an ultrathin single quantum well formed of the wetting layer in the structure with self-assembled InAs /GaAs quantum dots and from single pillar microresonators of the lateral sizes in the range of single micrometers.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2007

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska

×

Cytowanie

Styl cytowania: