Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm
Tytuł publikacji grupowej: Autor:Serafińczuk, Jarosław ; Pietrucha, Jakub ; Schroeder, Grzegorz ; Gotszalk, Teodor P.
Współtwórca:Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Temat i słowa kluczowe:optyka ; X-ray reflectivity ; thickness determination ; Savitzky–Golay algorithm
Opis:Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322
Wydawca:Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania: Data wydania: Typ zasobu: Format: Źródło:<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język: Powiązania:Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału: