Tytuł:

Thermoreflectance and micro-Raman measurements of the temperature distributions in broad contact laser diodes

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Autor:

Ochalski, Tomasz J. ; Piwoński, Tomasz ; Wawer, Dorota ; Pierściński, Kamil ; Bugajski, Maciej ; Kozłowska, Anna ; Maląg, Andrzej ; Tomm, Jens W.

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja

Temat i słowa kluczowe:

optyka ; thermoreflectance ; Raman spectroscopy ; semiconductor laser

Opis:

Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 479-484

Abstrakt:

In this paper we describe a number of optical techniques suitable for estimation of the semiconductor surface temperature. High spatially resolved thermoreflectance will be shown as a powerful tool to measure temperature distribution at the laser diode front facet. For determination of the absolute value of the front facet temperature we use micro-Raman spectroscopy. Both techniques will be presented as a complementary ways to determine surface temperature distribution on the working laser diode.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2005

Typ zasobu:

artykuł

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska